可见光至近红外波前分析仪(0.4μm ~ 1.1μm)

1.pngSID-HR适用于光学计量需求。它将SID4易于实现与超高分辨率相关联。 SID4-HR对整个物体表征进行瞬时测量。

它针对表面检测(粗糙度,高频缺陷...)和光学元件表征(透镜,物镜,非球面...)进行了优化。

高性能相机提高了激光表征的精度。

具有紧凑的300 x 400相位图采样使SID4-HR成为研究和工业中光学和激光的独特工具。

 

产品特点:

l  高分辨率(400 × 300)

l  高动态范围

l  在广域上进行瞬时测量

l  结构紧凑


产品参数:

波长范围

400-1100nm

孔径尺寸

8.9×11.8 mm2

空间分辨率

29.6 µm

采样点(相位和强度)

300×400

分辨率(相位)

2 nm RMS

精确度

15 nm RMS

动态范围

500 µm

曲率半径范围

4 mm to +∞

曲率分辨率

< 5.10-4 m-1

最大数值孔径

0.5

采样频率

30 fps

实时处理频率

3 fps (full resolution)

尺寸(W×H×L)

54×46×79 mm

重量

~250 kg